常规我们二次元都是对二维平面尺寸的产品检测，但在日常工业中不少客户单独二维平面尺寸的测量无法满足要求，还需要对产品台阶、深度的一个检测，而买一台三坐标又过于的昂贵，基于多方因素市场上研发出2.5D光学测量以满足相关客户的特殊需求：市场上推出的2.5次元影像仪分为两类产品，第一类是光学对焦测高型2.5次元影像测量仪，第二类是探针辅助测高型二次元，客户可以根据自身产品特点选择最适合测量的相关产品。
2.5次元影像测量仪主要优点
采用“HIWIN”P级直线导轨和精密V型滚珠导轨,保证机器精度及使用寿命。
立柱和底座采用坚实的花岗岩结构、稳定可靠。
配备多功能2.5D测量软件，自动寻边,影像测高。
配备可移动可拆卸的仪器专用桌。
高清卡位变倍镜头和高分辩率CCD,实现产品高清晰度测量。
测量结果可输出Word 、Excel、CAD等格式。
可导入DXF文件进行快速检测。
型号 XVM-2010F XVM-3020F XVM-4030F
测量范围(mm) 200x100x200 300x200x200 400x300x200
外型尺寸(mm) 750*1300*1500mm 750*1300*1500mm 900*1400*1500mm
重量(kg) 160 170 250
承重(kg) 20 25 25
备注：客户可根据自身产品需求选配英国Renishaw MCP探针接触式测高功能
测量精度(μm): 3+L/200
重复精度（mm）:0.003
测量方式：影像
光栅尺: 1.0μm分辩率开放式玻璃光栅尺
图像传感器CCD: HC536 1/3英寸600线工业彩色相机
导轨: Z轴：“HIWIN”P级直线导轨 X、 Y轴：精密V型导轨
光学系统: 6.5:1连续变倍卡位镜筒
放大倍率: 光学放大倍率:0.7-4.5X;影像放大倍率:24-158X
软件: 自动2.5D测量软件